Rastrovací hrotová mikroskopie _Archiv

Předmět byl vypsán v rámci třetího ročníku UMK. Příští ročník nabídne opět zcela novou sadu předmětů.

Přednášející: Nikdo

Hodnocení: 3 kr., kolokvium

Předpoklady: Zájem studenta o zákulisí vývoje technické inovace v podobě rastrovacího tunelového mikroskopu. Touha zjistit, co se skrývá pod zkratkami FEM, STM, AFM, SPM, KFM, SNOM, NSOM, SEM,…

Cíle: Představit studentům metody studia povrchů pevných látek v atomárním rozlišení.

Anotace: Nejprve detailněji probereme způsob vzniku rastrovacího tunelového mikroskopu a to nejen po technické stránce. Dále narazíme na rozšíření tunelovací mikroskopie v podobě mikroskopie atomárních sil. Zakončení by mělo proběhnout formou diskuze o probraném tématu. Studenti budou nejen zodpovídat, ale mohou také pokládat dotazy.

Líbíl se ti předmět? Pověz o něm kamarádům!